成果信息

半导体激光器特性参数测试系统通过给被测激光器注入按一定步幅增加的恒流或脉冲电流，同时采集流过激光器的电流 IF、两端电压 VF、输出光功率 Po和背光电流 Im等信号，从而得到反映激光器电抗特性的 VF-IF 曲线和电光转换特性的Po-IF 曲线，从而得到激光器的阈值电流 Ith、串联电阻 Rs、效率hs、 “扭折”kink等特性参数。)

背景介绍

半导体激光器已经成为通信和网络技术所支撑的信息技术的核心器件。因此，各国竞相投入巨资研制高性能的半导体激光器，而先进的测试设备是保证器件性能提高的必备条件。目前只有国外少数的几个国家具备研制激光器特性参数测试设备的能力。在国内，激光器的测试设备，尤其脉冲测试设备，仍然处于空白。)

应用前景

对半导体激光器的脉冲特性以及连续特性进行测试。 该系统广泛应用于半导体激光器的生产厂家和使用单位。具有良好的应用前景。)