成果信息

CT技术最大的优势在于：可以无损地对产品的内外结构尺寸进行测量；可以在一次扫描下同时完成产品尺寸检测与材料质量控制。这使得CT在传统工业测量领域建立了独特的优势，传统接触式或光学CMM设备难以测量的装配件及具有复杂内部结构的零件内部结构，使用CT技术可以获得理想的解决方案。特别是在服役状态下装配件（像引信等）的质量检测上，使用CT技术有效的避免了装配前后由于零部件结构及尺寸发生变化而导致的产品失效等。显微CT，将CT技术的检测精度往前推进了一大步，它的测量精度可以达到亚微米级。传统的激光测量，采用激光波长几百个纳米，测量精度不可能小于波长。这意味着显微CT在提供不亚于激光测量的精度的同时，还可以测量内部结构的尺寸。工业CT成像原理是，射线源产生的X射线穿透被检样品时发生衰减，衰减量由透照样品厚度及组分决定，衰减后射线入射到探测器，形成二维灰度图像。大量不同角度的二维投影图像，经过重建后生成断层图像。该项目采用几何放大的方法得到CT图像，提高成像精度。该CT系统的精度主要和射线源的焦点大小有关，拟采用纳米焦点X光机作为射线源。)

背景介绍

CT技术自诞生起就被广泛应用在医疗诊断与材料检测领域，随着CT技术进步及精度提高，CT技术开始广泛应用于工业产品尺寸测量，内部结构分析。)

应用前景

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