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一种基于高斯白噪声环境下的电磁辐射测量修正方法


行业类别:微电子技术
所处阶段:研究阶段
持有单位:湘潭大学
转让方式:技术转让,技术许可,
转让价格:面议

成果信息

本发明提供了一种基于高斯白噪声环境下的电磁辐射测量修正方法,该方法可实现通过高斯白噪声模型准确的计算出修正因子,实现电磁辐射准确测量。)

背景介绍

对于电磁辐射强度测量修正方法,文献《频谱仪测量低电平信号的应用研究》(秦顺友.频谱仪测量低电平信号的应用研究[C]//安捷伦科技节暨安捷伦科技生命科学与化学分析技术高层论坛、安捷伦测量科技论坛.2009.)研究利用频谱仪射频衰减、分辨带宽、视频带宽和视频平均的方法,提高和改善低电平信号的测量精度,文献《用频谱仪进行准确的信号功率测量》(陈峰.用频谱仪进行准确的信号功率测量[J].电子设计应用,2009(8):80-83.)主要是从原理上分析频谱分析仪各种设置的影响以及如何正确设置参数,从而获得准确的信号功率测量结果,上述文献主要分析了频谱仪测量时的设置,但并没有给出具体的修正方法。)

应用前景

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