成果信息

一种利用温度扰动法测量固体材料高温连续光谱发射率的方法，涉及一种测量固体材料光谱发射率的方法。本发明是要解决现有的测量材料光谱发射率的方法需要设置参考黑体，且高温下试件温度不均匀、误差大，光路系统复杂的技术问题。本发明将样品放入高温炉中，启动高温炉和加热片均加热至温度为T，测得辐射能量；保持高温炉的加热温度为T，将加热片的温度升高至T，测得辐射能量；保持加热片的加热温度为T，同时将高温炉的温度升高至T，测得辐射能量，光谱发射率本发明不必设置参考黑体，试件温度均匀、误差小、没有复杂的光路系统，实现了1000K~2000K高温条件下固体材料连续光谱发射率的精确测量。 )

背景介绍

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应用前景

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